激发光源
按样品吸收波段、脉宽和重复频率配置脉冲或调制激发。
Product Overview
产品概述
FLA-T01 围绕荧光衰减过程的采集与分析设计，可结合光源、探测器、时间测量和软件模块形成完整实验平台。
核心能力
- 荧光寿命测量
- 时间分辨弱光检测
- 实验参数与数据分析
- 支持科研平台集成
Working Principle
时间分辨荧光衰减测量
样品受到脉冲或调制光激发后产生荧光衰减。系统记录光子或模拟信号随时间的变化，通过仪器响应校正和衰减模型拟合获得寿命参数。
样品与光路
管理激发、发射滤光、样品位置和杂散光抑制。
弱光时间探测
采用 PMT、APD 或相应时间测量链路记录荧光衰减。
寿命拟合软件
完成仪器响应处理、单/多指数拟合和拟合质量评价。
Selection
选型前需要确认
- 激发与发射波段
- 预期寿命范围和信号强度
- 固体、液体或器件样品形态
- 拟合模型、扫描方式和温控等扩展需求
Delivery
方案交付内容
- 激发、滤光和样品光路
- 弱光探测与时间测量单元
- 寿命拟合与数据分析软件
- 代表性样品测试和操作培训
本页按时间分辨荧光寿命测量的通用方法整理；具体时间范围、波段和探测器配置以正式方案为准。
Technical Questions
技术问题
围绕测量原理、系统配置、质量控制和结果解释整理的常见问题。
寿命与荧光强度有什么区别？+
强度易受激发功率、浓度和光路影响，寿命描述衰减时间特征，但仍需合适的模型和仪器响应校正。
多指数拟合是否一定更准确？+
参数增加可能改善表面拟合却降低可解释性，应结合残差、物理模型和重复性共同判断。
需要选型或定制方案？