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示范案例 · 全粒径谱联用测量
APS与SMPS联用测量全粒径谱
将 SHD-APS-2301 与 SMPS 联用,覆盖纳米至粗粒子范围,完成重叠粒径段校核与全粒径谱拼接。

Project Challenge
项目需求
SMPS 与 APS 的测量原理和粒径定义不同,单独使用任一设备都难以覆盖从纳米粒子到粗粒子的完整范围。科研实验需要统一采样分流、时间同步和数据格式,在重叠粒径段完成校核,减少传输差异,为全粒径谱分析和颗粒生成、增长、老化与沉降机制研究提供可比数据。
系统组成
- SHD-APS-2301 空气动力学粒径谱仪
- SMPS 纳米粒径谱仪
- 采样分流、时间同步与数据处理工作站
Delivery Process
实施过程
01
确定 APS 与 SMPS 的测量范围和采样条件
02
完成采样分流、流量核查与时间同步
03
校核重叠粒径段并拼接全粒径谱
04
整理图表和原始数据
Project Outcomes
预期成果
- 获得纳米至粗粒子范围的连续全粒径谱
- 形成 APS 与 SMPS 重叠粒径段校核记录
- 输出可复核的图表与原始数据
