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示范案例 · 全粒径谱联用测量

APS与SMPS联用测量全粒径谱

将 SHD-APS-2301 与 SMPS 联用,覆盖纳米至粗粒子范围,完成重叠粒径段校核与全粒径谱拼接。

APS与SMPS联用测量全粒径谱现场图 1

Project Challenge

项目需求

SMPS 与 APS 的测量原理和粒径定义不同,单独使用任一设备都难以覆盖从纳米粒子到粗粒子的完整范围。科研实验需要统一采样分流、时间同步和数据格式,在重叠粒径段完成校核,减少传输差异,为全粒径谱分析和颗粒生成、增长、老化与沉降机制研究提供可比数据。

系统组成

  • SHD-APS-2301 空气动力学粒径谱仪
  • SMPS 纳米粒径谱仪
  • 采样分流、时间同步与数据处理工作站

Delivery Process

实施过程

01

确定 APS 与 SMPS 的测量范围和采样条件

02

完成采样分流、流量核查与时间同步

03

校核重叠粒径段并拼接全粒径谱

04

整理图表和原始数据

Project Outcomes

预期成果

  • 获得纳米至粗粒子范围的连续全粒径谱
  • 形成 APS 与 SMPS 重叠粒径段校核记录
  • 输出可复核的图表与原始数据

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告诉我们监测对象、信号范围、部署环境和数据要求,我们将给出初步配置建议。

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