SHD-APS-2301 空气动力学粒径谱仪
Application Context
为什么需要粒径谱
SMPS 适合纳米至亚微米粒径段，APS 覆盖亚微米至粗粒子范围。两者通过重叠粒径段校核和统一时间基准进行联用，可将不同物理定义的粒径数据拼接为连续、可解释的全粒径谱。
方案目标
- 获得纳米至粗粒子范围的连续全粒径谱
- 在重叠粒径段完成两类仪器结果校核
- 为气溶胶机理研究提供可比数据
System Configuration
建议系统组成
SMPS 纳米粒径谱仪
采样分流、时间同步与数据处理工作站
Implementation
实施流程
从测量条件确认到结果评价，保留关键状态和质控记录。
联用测量设计
明确 SMPS 与 APS 的粒径范围、时间分辨率、采样条件及重叠粒径段。
统一采样与同步
设计合理分流和管路，统一时钟并记录流量、温湿度和仪器状态。
重叠区校核
结合有效密度、颗粒形状和采样损失，对 APS 与 SMPS 重叠粒径段进行比较和校正。
全粒径谱拼接
完成纳米至粗粒子的连续粒径谱拼接，并与组分、光学或模型数据关联分析。
Data Outputs
可获得的结果
- APS 与 SMPS 全粒径谱拼接结果
- 重叠粒径段校核记录
- 图表与原始数据导出
Scenario Example
典型场景示例，不对应特定客户项目
APS与SMPS联用测量全粒径谱
使用统一采样入口和时间基准同步运行 APS 与 SMPS，在重叠粒径段完成校核后，形成从纳米至粗粒子的连续全粒径谱。
重点观察
- SMPS 与 APS 重叠区的谱形和浓度差异
- 有效密度和形状因子对粒径转换的影响
- 纳米至粗粒子的粒径分布变化
Technical Notes
技术要点
01
全粒径谱拼接需明确电迁移粒径与空气动力学粒径的物理差异。
02
有效密度、形状因子和采样损失会影响不同仪器结果比较。
03
数据处理方法应在课题方案中固定并保留原始数据。